上海仪电物光颗粒图像分析仪WKL-702
产品特点
将传统的显微测量方法与现代的图像技术相结合，是一种采用图像法进行颗粒形貌分析和颗粒测量的颗粒分析仪器，由光学显微镜、数字CCD摄像机和颗粒图像处理分析软件组成。该系统通过专用的数字摄像机将图像传输给电脑，通过专用的颗粒图像处理分析软件对图像进行分析处理，具有直观、形像、准确和测量范围宽等特点。
1、图像多种处理方法：影像增强、图像叠加、局部提取、定倍放大、对比度、亮度调节、颗粒定位、自动分割等几十种功能。
2、具有圆度、曲线、周长、面积、直径等几十种几何参数的基本测量。
3、可直接按颗粒粒径的粒径面积、形状等多类参数，以线性或非线性统计方式绘出分布图。
技术参数
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仪器型号 |
WKL-702 |
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测量范围 |
0.1～3000（微米） |
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总放大倍数 |
8000倍 |
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最大分辨率 |
0.1微米/像素 |
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重复性 |
误差≤±1％ |
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自动分割速度 |
≤1秒 |
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数字摄像机(CCD) |
500万像素 |
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数据储存 |
电脑需另配（i5+8G内存+纯固态硬盘或双硬盘以上配置） |
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通信接口 |
USB |
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操作系统 |
Windows 98/XP/7/8/10/11系统均可 |
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电源 |
AC220V ±10％，50 Hz， 200 W |
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仪器尺寸 |
270mm×410mm×440mm |
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仪器净重 |
15kg |